日本理學波長色散型X射線熒光光譜儀是用晶體分光而后由探測器接受經過衍射的特征X射線信號。如果分光晶體和控測器做同步運動，不斷地改變衍射角，便可獲得樣品內各種元素所產生的特征X射線的波長及各個波長X射線的強度，可以據此進行特定分析和定量分析。
X射線熒光分析技術（XRF）作為一種快速分析手段，為相關生產企業提供了一種檢測、篩選和控制有害元素含量的有效途徑；相對于其他分析方法，XRF具有無需對樣品進行特別的化學處理、快速、方便、測量成本低等優點，適合用于各類相關生產企業作為過程控制和檢測使用。
日本理學波長色散X射線熒光光譜儀是一種掃描型熒光X射線分析儀，具有上照射類型。支持測量和分析，即使初學者也能輕松獲得準確的分析結果。數字計數系統、高速驅動測角儀和優化的控制系統可實現高速、高精度測量。通過人工多層累積膜和真空控制機制，可以測量*輕元素。高規格型號還配備了安全可靠的設計，如人為錯誤預防功能、點映射分析和散射線SQX功能。
日本理學波長色散型X射線熒光光譜儀應用領域：
地質樣品領域：針對地質領域壓片和熔片兩類樣品分別開發了應用方法體系，可以為地質研究、找礦提供可靠的檢測數據。
建材樣品領域：針對多種建材樣品的分析需求，建立了水泥、涂料等樣品應用方法體系，實現對樣品的高精度分析。
新材料樣品領域：能夠解決新材料研究領域寬幅、無損、全元素分布分析的難題。
